D-69198 Schriesheim (DE)
KUEHNEL, Andreas
Taunusstrasse 71
D-61440 Oberursel (DE)
Q PCT/EP 1997/006580 (De)
R WO 1998/026265 18.6.1998
I G01M011/06, B 60 Q 001/08,
G01J001/18
A 01 214 574
B 00953594.9
C 28.08.2000 Q En
H 19.06.2002 R En
E 14.07.2004
F 23.09.1999 PL 33555399
K VERFAHREN ZUR ABSCHÄTZUNG
DER BELEUCHTUNGSQUALITÄT
VON FAHRZEUGSCHEINWERFERN
O Instytut Transportu
Samochodowego
ul. Jagiellonska 80
03-301 Warszawa (PL)
N TARGOSIŃSKI, Tomasz
ul. Relaksowa 45 m.60
PL-02-799 Warszawa (PL)
Q PCT/PL 2000/000058 (En)
R WO 2001/022047 29.3.2001
I G01N001/06
A 00 924 503
B 97811004.7
C 19.12.1997 Q En
H 23.06.1999 R En
E 07.07.2004
K Gerät zur Verwendung in einem
Ultramikrotom
O Anton Meyer & Co.AG
Helmstrasse 1
2560 Nidau (CH)
N Studer, Daniel
Rebenweg 27
3293 Dotzigen (CH)
I G 01 N 001/20 Z B 01 J 008/24
A 01 099 473
I G 01 N 001/40 Z C 11 D 003/39
A 01 247 859
I G 01 N 003/32 Z G 01 N 033/38
A 01 211 511
I G 01 N 003/58 Z B 21 D 039/04
A 01 086 761
I G 01 N 015/08 Z B 01 D 071/06
A 01 266 684
I G 01 N 021/31 Z G 01 N 033/12
A 01 093 581
I G01N021/35
A 00 953 148
B 98900232.4
C 12.01.1998 Q En
H 03.11.1999 R En
E 14.07.2004
F 14.01.1997 JP 484497
14.01.1997 JP 484597
K VORRICHTUNG UND VERFAHREN
ZUR MESSUNG STABILER ISOTOPE
MITTELS SPEKTROSKOPIE
O Otsuka Pharmaceutical Co., Ltd.
9, Kandatsukasa-cho 2-chome
Chiyoda-ku
Tokyo 101 (JP)
N MORI, Masaaki
20-18, Sugiyamate
1-chome,Hirakata-shi
Osaka 573-01 (JP)
KUBO, Yasuhiro
211, Bodaiji
2093,Kosei-cho,Koka-gun
Shiga 520-32 (JP)
TSUTSUI, Kazunori
15-2-202, Kuzuha-mentori-cho
1-chome
Hirakata-shi,Osaka 573 (JP)
Q PCT/JP 1998/000097 (En)
R WO 1998/030888 16.7.1998
I G 01 N 021/35 Z G 01 N 033/12
A 01 093 581
I G01N021/55, G 01 N 033/487,
G01N021/86
A 00 806 651
B 97107001.6
C 28.04.1997 Q En
H 12.11.1997 R En
E 14.07.2004
F 09.05.1996 US 647122
K Reflektionsspektroskop mit Lesekopf
zur Verringerung von einfach
reflektierten Lichtstrahlen.
O Bayer Corporation
100 Bayer Road
Pittsburgh, PA 15205-9741 (US)
N Howard, Willis
2716 East Jackson Blvd.
Elkhart, Indiana 46516 (US)
Schaffer, Gary
27374 CR 32, Elkhart
Indiana 46517 (US)
I G 01 N 021/86 Z G 01 N 021/55
A 00 806 651
I G 01 N 023/223 Z A 61 N 005/10
A 01 293 229
I G 01 N 025/18 Z C 12 Q 001/54
A 00 778 897
I G01N025/52, G 01 N 033/28,
G01N033/22
A 00 793 093
B 97250045.8
C 27.02.1997 Q De
H 03.09.1997 R De
E 07.07.2004
F 28.02.1996 DE 19609413
K Verfahren und Vorrichtung zur
automatisierten Flammpunktprüfung
O Petrotest Instruments GmbH & Co. KG
Ludwig-Erhard-Ring 13
15827 Dahlewitz (DE)
N Handschuck, Berhard
Zeisspfad 84
12305 Berlin (DE)
Eilers, Helmut
Harnackstrasse 34
10365 Berlin (DE)
I G 01 N 027/00 Z C 12 Q 001/54
A 00 778 897
I G 01 N 027/02 Z G 01 N 027/22
A 00 876 601
I G01N027/12
A 00 848 249
B 97121648.6
C 09.12.1997 Q De
H 17.06.1998 R De
E 07.07.2004
F 11.12.1996 DE 19651328
K Temperaturregelung für
Gassensoren
O Jürgen Dittrich Elektronik
Bahnhofstrasse 67
76532 Baden-Baden (DE)
N Dittrich, Jürgen
Pflugweg 3
76532 Baden-Baden (DE)
I G01N027/22, G 01 N 033/543,
G01N027/02
A 00 876 601
B 96940660.2
C 29.11.1996 Q En
H 11.11.1998 R En
E 14.07.2004
F 01.12.1995 US 7840 P
K SYSTEM UND VERFAHREN ZUR
BESTIMMUNG DER IMPEDANZ UND
HERSTELLUNGSVERFAHREN
O INTERUNIVERSITAIR
MICROELEKTRONICA CENTRUM
VZW
Kapeldreef 75
3001 Leuven (BE)
INNOGENETICS N.V.
Industriepark Zwijnaarde 7, Box 4
9052 Ghent (BE)
N VAN GERWEN, Peter
Langeveldstraat 107
B-1745 Opwijk (BE)
BAERT, Kris
St.-Jorislaan 9
B-3001 Heverlee (BE)
ROSSAU, Rudi
Wilgehoevestraat 45
B-2180 Ekeren (BE)
Q PCT/EP 1996/005290 (En)
R WO 1997/021094 12.6.1997
I G 01 N 027/327 Z C 12 Q 001/54
A 00 778 897
I G 01 N 027/403 Z G 01 N 033/543
A 00 775 314
I G01N027/447, G 01 N 033/50
A 00 852 007
B 96932238.7
C 16.09.1996 Q En
H 08.07.1998 R En
E 14.07.2004
F 20.09.1995 US 530957
K BORATHALTIGE SPEICHERPUFFER
UND PROBENVERDÜNNER
O Beckman Coulter, Inc.
4300 N Harbor Boulevard
PO Box 3100
Fullerton, CA 92834-3100 (US)
N ALTER, Stephen, C.
18001 Biglow Park
Tustin, CA 92680 (US)
KIM, Elsie, H.
159 Greenfield
Irvine, CA 92714 (US)
Q PCT/US 1996/014848 (En)
R WO 1997/011363 27.3.1997
I G 01 N 027/90 Z B 21 B 038/00
A 00 995 507
I G01N027/90, G 01 B 007/14
A 01 155 313
B 99954084.2
C 08.11.1999 Q Fr
H 21.11.2001 R Fr
E 07.07.2004
F 19.02.1999 FR 9902089
K PROCEDE ET DISPOSITIF DE
MESURE IN SITU DE LA DISTANCE
ENTRE DEUX ELEMENTS DONNES
DANS UNE CONDUITE TUBULAIRE
O TECHNIP FRANCE
ZAC Danton, 6-8, allée de l’Arche,
Faubourg de l’Arche
92400 Courbevoie (FR)
N LEMBEYE, Philippe
387 rue des Blancs Hameaux
F-76380 Montigny (FR)
Q PCT/FR 1999/002729 (Fr)
R WO 2000/049398 24.8.2000
I G 01 N 029/12 Z G 01 N 033/38
A 01 211 511
I G 01 N 030/12 Z B 01 D 003/08
A 01 297 873
I G 01 N 030/12 Z B 01 D 003/08
2210
+pat+13 15.7.2004
Kommentare zu diesen Handbüchern